抓取结果
高低温试验箱，恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱，快速温变试验箱，老化房，步入式恒温恒湿试验室，卡伦测控技术（无锡）有限公司 EN CN EN 联系电话： 18961629250 首页 + 关于我们 公司简介 专利资质认证 员工风采 发展历程 + 产品中心 半导体芯片可靠性测试设备 MEMS标定(量产、工程验证） 可靠性环境模拟试验设备 + 解决方案 半导体行业 汽车零部件行业 家电行业 新能源行业 信息通讯 第三方实验室整体筹建 + 实验室 环境与可靠性测试 失效分析 培训与技术服务 第三方实验室整体筹建 + 新闻动态 公司新闻 行业新闻 + 技术服务 售后服务 资料下载 其他服务 + 联系我们 联系方式 人才招聘 语言版本： 中文版 English 半导体芯片可靠性测试设备 HTRB高温反偏老化测试系统 HTOL集成电路高温动态老化测试系统 LTOL集成电路低温动态老化测试系统 PCT-3000模块老化测试系统 PCBA高温带载老化设备 MEMS标定(量产、工程验证） 温度标定测试系统 气压标定测试系统 温湿度传感器 可靠性环境模拟试验设备 高低温交变湿热试验箱 快速温变试验箱 两箱冷热冲击试验箱 三箱冷热冲击试验箱 芯片气体冲击（热流仪） 高低温试验一体机 桌上型高低温湿热试验箱 HAST偏压加速老化测试系统 400℃高温加速老化试验箱 接触式高低温设备、高低温控温卡盘 热真空试验箱 大型老化房 探索更多精彩 高低温交变湿热试验箱 查看更多 快速温变试验箱 查看更多 两箱冷热冲击试验箱 查看更多 三箱冷热冲击试验箱 查看更多 HTRB高温反偏老化测试系统 查看更多 HTOL集成电路高温动态老化测试系统 查看更多 PCT-3000模块老化测试系统 查看更多 2000万 公司注册资金 3800㎡ 研发生产制造基地 90% 本科以上学历人数 30+ 专利授权 专业从事芯片半导体行业可靠性试验设备自主研发制造及提供行业整体解决方案供应商 卡伦测控技术（无锡）有限公司成立于 2011 年，公司注册资金 2000 万。现在江苏无锡·中国电子(无锡)数字芯谷拥有 3800 平生产制造基地和研发电子实验室。全体员工通过十几年的专业科研、高校科研成果转化以及技术引进合作，在试验方法均满足 GB、GJB、MIL、JIS、IEC、ATE、AEC 等相关试验标准筛选要求及规定下，一直致力于可靠性环境模拟试验设备、可靠性老化测试设备、低温恒温专用设备研发、生产、销售并为客户提供行业整体解决方案。 查看详情 资质荣誉 企业宣传片 2024/04/18 重磅 | 开启全球招聘，期待你的加入 地址：无锡市锡山区先锋中路6号中国电子数字芯城3A 18961629250 kalentech@qq.com 产品中心 半导体芯片可靠性测试设备 MEMS标定(量产、工程验证） 可靠性环境模拟试验设备 解决方案 半导体行业 汽车零部件行业 家电行业 新能源行业 信息通讯 第三方实验室整体筹建 实验室 环境与可靠性测试 失效分析 培训与技术服务 第三方实验室整体筹建 关于我们 新闻动态 技术服务 联系我们 人才招聘 COPYRIGHT © 2025 卡伦测控技术（无锡）有限公司 版权所有 苏ICP备2025181866号友情链接：微信在线客服 光纤测温 北京超声波焊接机 空气能热泵烘干机 废水蒸发器 固废分析标准物质 旭海成 模塑料厂家 交流电容器耐压试验台 空气能热水器 矿用锚索张拉机具 固定式液压升降平台 减速机厂家 粮食安全快检仪 扁形方框式除尘滤板 高温井式管式炉 平板衬塑离心机 光纤传感器 数控卧式车床 节气装置 品牌快速门厂家 上海小程序开发 苏州钢制保温提升门 变频高压鼓风机 熔盐物性综合测试仪 继保测试仪 细胞牵张仪 常州超声波焊接机 X750锻件 自动贴标签机 硅酸铝棉保温施工 Apiezon N grease 电话 18961629250 邮箱 kalentech@qq.com 二维码 二维码 TOP
网站标题
高低温试验箱，恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱，快速温变试验箱，老化房，步入式恒温恒湿试验室，卡伦测控技术（无锡）有限公司
关键词
卡伦测控，高低温试验箱，恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱，快速温变试验箱，老化房，步入式恒温恒湿试验室，老化房，芯片老化测试，可靠性测试设备
站点描述
卡伦测控技术（无锡）有限公司成立于 2011 年，公司注册资金 2000 万。现在江苏无锡·中国电子(无锡)数字芯谷拥有 3800 平生产制造基地。一直致力于可靠性环境模拟试验设备、可靠性老化测试设备、低温恒温专用设备研发、生产、销售并为客户提供行业整体解决方案。设备有：芯片气体冲击、步入式试验室、超快速冷热冲击试验机、恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验设备、气体式冲击试验机、快速温变试验箱、高温老化室、高温反偏老化系统（HTRB)、间歇式功率循环试验系统（IOL)、HTOL 集成电路高温动态老化测试系统、HA